In-line Laser Ellipsometer là thiết bị đo phủ màng trên wafer năng lượng mặt trời (PV) theo thời gian thực, sử dụng công nghệ ellipsometry bằng laser để đánh giá độ dày và chiết suất lớp phủ — giúp kiểm soát chất lượng trong quy trình sản xuất hiệu quả và không phá hủy mẫu.
